產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	品牌所有品牌 TIME北京時代集團德國德圖TESTO 國產(chǎn) 蘭泰星晟檢測美國博士能BUSHNELL 南通友聯(lián) 英國易高日本小野瑞士徠卡LEICA 日本理音RION 臺灣衡欣AZ 德國尼克斯德國KK 法國CA 日本HIOKI 臺灣PROVA 德國EPK 美國GE 武漢中科美國達高特德國馬爾	主要技術(shù)指標	價格
	激光測距儀 DISTO DXT	瑞士徠卡LEICA	測量精度(標準) ± 1,5 mm 測量范圍 0.05 m – 70 m	洽詢
	手持式激光測距儀 DISTO D8	瑞士徠卡LEICA	測量范圍 : 0.05 m ～ 200 m ; 測量精度 ( 典型 ) : ± 1.0 mm / ± 0.04 in	洽詢
	激光測距儀 YARDAGE PRO500	美國博士能BUSHNELL	測量精確度±1(碼/米）一般物件之測量最遠距離400m	洽詢
	激光測距儀 Laser800S	國產(chǎn)	測量距離:10-730m (11-800yd)	洽詢
	激光測距儀 Laser440	國產(chǎn)	測量距離: 10-400m (10.5-437yd)	洽詢
	激光測距儀 MEDALIST	美國博士能BUSHNELL	測距范圍 5-1000碼（約5-920米）A 觀察放大倍數(shù) 4倍	洽詢
	高爾夫?qū)Ｓ眉す鉁y距望遠鏡 PINSEEKER W_Slope 1500	美國博士能BUSHNELL	測角度范圍 +/-20° 測距范圍 5-1500碼（約5-1370米）	洽詢
	激光測距儀 PRO Tour V2	美國博士能BUSHNELL	測距范圍 5-1000碼（約5-900米）觀察放大倍數(shù) 5倍	洽詢
	霍爾效應(yīng)瓶壁測厚儀 FH7400	德國EPK	測量厚度高達10mm	洽詢
	麥考特機械涂層測厚儀 MIKROTEST NI100	德國EPK	測量范圍：0-100um	洽詢
	涂層測厚儀 MiniTest 720	德國EPK	探頭類型:內(nèi)置	洽詢
	涂層測厚儀 MiniTest 730	德國EPK	探頭類型：外置	洽詢
	超聲波涂層測厚儀 QuintSonic 7	德國EPK	測量范圍：300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層)	洽詢
	STODA涂層測厚儀 STD2200	國產(chǎn)	測量范圍：0～1250μm	洽詢
	涂鍍層測厚儀 QNix7500	德國尼克斯	顯示精度 1μm ;0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm	洽詢
	渦流涂層測厚儀 KD-1	國產(chǎn)	測量范圍：0-1200um	洽詢
	涂（鍍）層測厚儀 MC-2000A	國產(chǎn)	MC-2000 A 型測量范圍：0-1500um MC-2000 C 型測量范圍：0-5000um MC-2000 D 型測量范圍：10-9000um	洽詢
	鐵基涂層測厚儀 CM8820	蘭泰	分辨率: 0.1 um (小于100um)<br> 1 um (大于100um)<br> 最小測量面積：6mm<br> 最薄基底：0.3mm<br>	洽詢
	覆層測厚儀 TT230	TIME北京時代集團	測量范圍：0～1250μm	洽詢
	便攜式數(shù)字測振儀 VM-82	日本理音RION	加速度：0.02～200m/s2　等效峰值 1Hz～5KHz	洽詢

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